| 公开(公告)号 | CN1150336C |
| 公开(公告)日 | 2004.05.19 |
| 申请(专利)号 | CN00119541.7 |
| 申请日期 | 2000.08.01 |
| 专利名称 | 检测DNA芯片的制造方法 |
| 主分类号 | C12Q1/68 |
| 分类号 | C12Q1/68 |
| 分案原申请号 | |
| 优先权 | |
| 申请(专利权)人 | 上海交通大学 |
| 发明(设计)人 | 曾而良;刘建华;林志新 |
| 地址 | 200030 上海市华山路1954号 |
| 颁证日 | 2004.05.19 |
| 国际申请 | |
| 进入国家日期 | |
| 专利代理机构 | 上海交达专利事务所 |
| 代理人 | 王锡麟 |
| 国省代码 | 上海;31 |
| 主权项 | 一种检测DNA芯片的制造方法，其特征在于该方法步骤如下①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。 |
| 摘要 | 检测DNA芯片的制造方法的步骤如下：①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。这种方法基于核酸保护原理的DNA芯片检测技术，DNA芯片各个位点的DNA探针量已知而且待测样品无需预先用同位素或荧光基团标记，因其操作简单、结果可靠而易于在临床诊断中推广。 |
| 国际公布 |
